数据更新时间
2026-05-12
按“触发”筛选,展示 3 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
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GB/T 14030-92
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项目:触发电压V<Sub>TR</Sub>、触发电流I<Sub>TR</Sub>
检测对象:半导体集成电路时基电路
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015
检测项目:输入触发电流
检测对象:半导体光电耦合器