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中国电子科技集团公司第二十研究所瑞测校准检测实验室

当前查看:中国电子科技集团公司第二十研究所瑞测校准检测实验室

北京市 · 北京市

地址:北京市海淀区万寿路27号

联系电话:010-68200821

数据更新时间

2026-05-12

能力范围

按“O”筛选,展示 146 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。

按标准归类为 14 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

BD420002-2015

北斗/全球卫星导航系统(GNSS)测量型OEM板性能要求及测试方法

28 项检测项目

检测项目:低温试验、振动试验、高温试验、单北斗系统工作能力、通道数与跟踪能力、捕获灵敏度、跟踪灵敏度、单点定位精度 等 28 项,点击展开全部

检测对象:电子、通讯、机械类设备

低温试验振动试验高温试验

检测对象:测量型产品

单北斗系统工作能力通道数与跟踪能力捕获灵敏度跟踪灵敏度单点定位精度静态基线测量精度内部噪声水平伪距差分定位RTK测量精度观测数据可用率伪距观测值精度载波相位观测值精度速度精度1PPS精度首次定位时间重捕获时间RTK初始化时间动态性能输入输出数据内容及格式接口存储保护电源功耗尺寸与重量

RTCA DO-160G-2010

机载设备环境条件和试验程序

14 项检测项目

检测项目:湿热试验、低温试验、振动试验、温度冲击试验、温度变化试验、冲击试验、霉菌试验、砂尘试验 等 14 项,点击展开全部

检测对象:电子、通讯、机械类设备

湿热试验低温试验振动试验温度冲击试验温度变化试验冲击试验霉菌试验砂尘试验低气压(高度)试验结冰试验盐雾流体污染试验高温试验防水试验

RTCA DO-160F-2007

机载设备环境条件和试验

14 项检测项目

检测项目:低温试验、温度冲击试验、温度变化试验、湿热试验、霉菌试验、砂尘试验、振动试验、冲击试验 等 14 项,点击展开全部

检测对象:电子、通讯、机械类设备

低温试验温度冲击试验温度变化试验湿热试验霉菌试验砂尘试验振动试验冲击试验低气压(高度)试验结冰试验盐雾流体污染试验高温试验防水试验

RTCA/DO160F-2007

机载设备环境条件和试验程序 Section

8 项检测项目

检测项目:电源输入、电压尖峰、电源线音频传导敏感度、射频传导敏感度、射频辐射敏感度、射频传导发射、射频辐射发射、静电放电抗扰度

检测对象:民用飞机机载设备

电源输入电压尖峰电源线音频传导敏感度射频传导敏感度射频辐射敏感度射频传导发射射频辐射发射静电放电抗扰度

RTCA/DO160G-2010

机载设备环境条件和试验程序 Section

8 项检测项目

检测项目:电源输入、电压尖峰、电源线音频传导敏感度、射频传导敏感度、射频辐射敏感度、射频传导发射、射频辐射发射、静电放电抗扰度

检测对象:民用飞机机载设备

电源输入电压尖峰电源线音频传导敏感度射频传导敏感度射频辐射敏感度射频传导发射射频辐射发射静电放电抗扰度

IEC 61108-2:2010

海上导航和无线电通信设备和系统.全球导航卫星系统(GNSS).第2部分:全球导航卫星系统(GLONASS).接收机设备.性能标准、测试方法和要求的测试结果 5.6.4、5.6.5、

1 项检测项目

检测项目:全球导航卫星系统(GLONASS)性能试验

检测对象:船载航行系统和设备

全球导航卫星系统(GLONASS)性能试验

MSC.53(66)

船载GLONASS接收机设备性能标准

1 项检测项目

检测项目:全球导航卫星系统(GLONASS)性能试验

检测对象:船载航行系统和设备

全球导航卫星系统(GLONASS)性能试验

MSC.113(73)

船载(GLONASS)接收机设备的性能标准

1 项检测项目

检测项目:全球导航卫星系统(GLONASS)性能试验

检测对象:船载航行系统和设备

全球导航卫星系统(GLONASS)性能试验

RTCA/DO-160G:2010

机载设备环境条件和试验方法

1 项检测项目

检测项目:雷电感应瞬态敏感度

检测对象:民用飞机机载设备

雷电感应瞬态敏感度
GB/T17574-1998

半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 方法

6 项检测项目

检测项目:输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZ</Sub>、静态条件下的电源电流

检测对象:半导体集成电路CMOS电路

输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>输出高阻态电流I<Sub>OZ</Sub>静态条件下的电源电流

检测对象:半导体集成电路模拟开关

输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>

检测对象:半导体集成电路时基电路

输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>

检测对象:半导体集成电路接口及控制器

输出高阻态电流I<Sub>OZ</Sub>输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>
GB/T 6798-1996

半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

6 项检测项目

检测项目:输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、高电平输出电流I<Sub>OH</Sub>、低电平输出电流I<Sub>OL</Sub>

检测对象:半导体集成电路电压比较器

输入失调电压V<Sub>IO</Sub>输入失调电流I<Sub>IO</Sub>输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>高电平输出电流I<Sub>OH</Sub>低电平输出电流I<Sub>OL</Sub>
GB/T14028-2018

半导体集成电路模拟开关测试方法

5 项检测项目

检测项目:导通电阻R<Sub>on</Sub>、导通电阻路差△R<Sub>on</Sub>、截止态漏极漏电流I<Sub>D(off)</Sub>、截止态源极漏电流I<Sub>S(off)</Sub>、导通态漏电流I<Sub>DS(on)</Sub>

检测对象:半导体集成电路模拟开关

导通电阻R<Sub>on</Sub>导通电阻路差△R<Sub>on</Sub>截止态漏极漏电流I<Sub>D(off)</Sub>截止态源极漏电流I<Sub>S(off)</Sub>导通态漏电流I<Sub>DS(on)</Sub>

半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017

半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017

4 项检测项目

检测项目:输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输出峰-峰电压V<Sub>opp</Sub>、输出短路电流I<Sub>os</Sub>

检测对象:半导体集成电路运算(电压)放大器

输入失调电压V<Sub>IO</Sub>输入失调电流I<Sub>IO</Sub>输出峰-峰电压V<Sub>opp</Sub>输出短路电流I<Sub>os</Sub>

BD 420005-2015

北斗/全球卫星导航系统(GNSS)导航单元性能要求及测试方法

1 项检测项目

检测项目:COG、SOG、UTC输出有效性

检测对象:导航型产品

COG、SOG、UTC输出有效性

机构信息

机构名称

中国电子科技集团公司第二十研究所瑞测校准检测实验室

所在地区

北京市 · 北京市

企业地址

北京市海淀区万寿路27号

联系电话

010-68200821

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