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2026-05-12
按“U”筛选，展示 73 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 8 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
《系统与软件工程 系统与软件质量要求和评价(SQuaRE) 第51部分:就绪可用软件产品(RUSP)的质量要求和测试细则》
检测项目：用户文档集、功能性、性能效率、兼容性、易用性、可靠性、维护性、信息安全性 等 9 项，点击展开全部
检测对象：通用应用软件
检测对象：基础软件（嵌入式操作系统）/嵌入式软件/工业软件
UL 1703-2002
平面光伏电池板
检测项目：温度测试、加速老化试验、温度循环试验、湿度测试
检测对象：光伏产品
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目：输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、静态功耗P<Sub>D</Sub>、开环电压增益A<Sub>VD</Sub>、共模抑制比K<Sub>CMR</Sub>、电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub> 等 13 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路电压比较器
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017
检测项目：输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、静态功耗P<Sub>D</Sub>、开环电压增益A<Sub>VD</Sub>、共模抑制比K<Sub>CMR</Sub>、电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>、输出峰-峰电压V<Sub>opp</Sub> 等 9 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路运算（电压）放大器
GB/T 14030-92
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项目：复位电压V<Sub>R</Sub>、复位电流I<Sub>R</Sub>、触发电压V<Sub>TR</Sub>、触发电流I<Sub>TR</Sub>、阈值电压V<Sub>T</Sub>、阈值电流I<Sub>T</Sub>、控制端电压V<Sub>C</Sub>、静态电源电流I<Sub>+</Sub>
检测对象：半导体集成电路时基电路
半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路第Ⅳ篇 方法
检测项目：输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZ</Sub>
检测对象：半导体集成电路CMOS电路
检测对象：半导体集成电路模拟开关
检测对象：半导体集成电路时基电路
检测对象：半导体集成电路接口及控制器
半导体集成电路模拟开关测试方法
检测项目：导通电阻R<Sub>on</Sub>、导通电阻路差△R<Sub>on</Sub>、截止态漏极漏电流I<Sub>D(off)</Sub>、截止态源极漏电流I<Sub>S(off)</Sub>、导通态漏电流I<Sub>DS(on)</Sub>
检测对象：半导体集成电路模拟开关
BD 420005-2015
北斗/全球卫星导航系统（GNSS）导航单元性能要求及测试方法
检测项目：COG、SOG、UTC输出有效性
检测对象：导航型产品