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数据更新时间
2026-05-12
按“IEC TS 63342:2022”筛选，展示 6 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
IEC TS 63342:2022
C-Si光伏(PV)组件 光和高温诱导退化(LETID)试验 检测
检测项目：全部参数、外观检查、电致发光图像、标准测试条件下的性能、B-O CID预处理(硼氧光致衰减)、LETID
检测对象：光伏组件