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数据更新时间
2026-05-12
按“存储器”筛选，展示 2 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
AEC Q100-005-REV-D1-2012
非易失性存储器编程/擦除耐久性、数据保持性和工作寿命测试
检测项目：非易失存储器耐久性，数据保持性和工作寿命
检测对象：半导体集成电路
AEC-Q100-Rev-J August 11,2023
基于失效机理的汽车应用集成电路应力试验鉴定要求 B
检测项目：非易失存储器耐久性，数据保持性和工作寿命
检测对象：半导体集成电路