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数据更新时间
2026-05-12
按“存储器”筛选，展示 4 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 4 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
AEC Q100-005D1:2012
非易失性存储器耐久性、数据保持性、工作寿命
检测项目：非易失性存储器耐久性、数据保持性、工作寿命（EDR）
检测对象：汽车电子
GB/T 42835-2023
半导体集成电路片 上系统（SoC）
检测项目：内部非易失性存储器测试
检测对象：电子元器件通用电子产品
AEC-Q100-Rev-J：2023
基于集成电路失效机理的应力测试认证要求 B
检测项目：非易失性存储器耐久性、数据保持性、工作寿命（EDR）
检测对象：汽车电子
AEC-Q104-Rev-：2017
基于多芯片组件（MCM）失效机理的应力测试认证要求 B
检测项目：非易失性存储器耐久性、数据保持性、工作寿命（EDR）
检测对象：汽车电子