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数据更新时间
2026-05-12
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半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 IV
检测项目：延迟时间
检测对象：数字集成电路
GB/T 42835-2023
半导体集成电路片 上系统（SoC）
检测对象：电子元器件通用电子产品