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2026-05-12
按“引出端”筛选，展示 2 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
SJ∕T 11706-2018
半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法
检测项目：带上拉电阻的引出端输入电流、带下拉电阻的引出端输入电流
检测对象：现场可编程门阵列