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中国软件评测中心工业和信息化部软件与集成电路促进中心

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2026-05-12

能力范围

按“电路”筛选,展示 84 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。

按标准归类为 8 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

AEC-Q100-Rev-J:2023

基于集成电路失效机理的应力测试认证要求

27 项检测项目

检测项目:功率温度循环、高温贮存寿命、高温寿命试验、静电放电-人体模型、静电放电-荷电模式、闩锁效应(LU)、机械冲击(MS)、变频振动(VFV) 等 27 项,点击展开全部

检测对象:汽车电子

功率温度循环高温贮存寿命高温寿命试验静电放电-人体模型静电放电-荷电模式闩锁效应(LU)机械冲击(MS)变频振动(VFV)预处理(PC)有偏温湿度测试(THB)有偏高加速应力测试(HAST)高压釜测试(AC)无偏高加速应力测试(UHST)无偏温湿度测试(TH)温度循环测试(TC)非易失性存储器耐久性、数据保持性、工作寿命(EDR)绑线剪切(WBS)绑线拉力(WBP)锡球剪切(SBS)测试前后参数/功能测试(TEST)电分配(ED)故障等级(FG)特性描述(CHAR)短路特性(SC)恒定加速(CA)粗/细检漏测试(GFL)包装跌落(DROP)

GB/T 42835-2023

半导体集成电路片 上系统(SoC)

19 项检测项目

检测项目:静态电源电流、输出高电平电压、输出低电平电压、输入高电平电流、输入低电平电流、输出高阻态电流、动态电流、传输时间 等 19 项,点击展开全部

检测对象:电子元器件通用电子产品

静态电源电流输出高电平电压输出低电平电压输入高电平电流输入低电平电流输出高阻态电流动态电流传输时间转换时间延迟时间建立时间保持时间同构处理器核数量测试处理器核频率测试中断功能测试复位功能测试内部非易失性存储器测试通信接口测试其他接口测试

SJ∕T 11706-2018

半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法

17 项检测项目

检测项目:输入高电平电压、输入低电平电压、输出高电平电压、输出低电平电压、静态接口电源电流、静态内核电源电流、上电电流、输入低电平漏电流 等 17 项,点击展开全部

检测对象:现场可编程门阵列

输入高电平电压输入低电平电压输出高电平电压输出低电平电压静态接口电源电流静态内核电源电流上电电流输入低电平漏电流输入高电平漏电流带上拉电阻的引出端输入电流带下拉电阻的引出端输入电流配置数据能保持的最低内核电源电压配置数据能保持的最低接口电源电压最高工作频率开关参数面向应用的功能验证面向电路的功能验证
GB/T 17574-1998

半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 Ⅳ

9 项检测项目

检测项目:输出高电平电压、输出低电平电压、输入高电平电流、输入低电平电流、输出高阻态电流、静态条件下的电源电流、传输时间、转换时间 等 9 项,点击展开全部

检测对象:数字集成电路

输出高电平电压输出低电平电压输入高电平电流输入低电平电流输出高阻态电流静态条件下的电源电流传输时间转换时间延迟时间
GB/T 17940-2000

半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 第Ⅳ篇第2节

5 项检测项目

检测项目:电源电流、截止频率、静态导通态电阻、截止态电流、导通态电流

检测对象:模拟集成电路

电源电流截止频率静态导通态电阻截止态电流导通态电流

AEC Q003A:2013

集成电路特性的导则 AEC Q003A:

5 项检测项目

检测项目:绑线剪切(WBS)、绑线拉力(WBP)、锡球剪切(SBS)、电分配(ED)、特性描述(CHAR)

检测对象:汽车电子

绑线剪切(WBS)绑线拉力(WBP)锡球剪切(SBS)电分配(ED)特性描述(CHAR)

AEC - Q100-004 - Rev-D

集成电路闩锁测试

1 项检测项目

检测项目:闩锁效应(LU)

检测对象:汽车电子

闩锁效应(LU)
GB/T 5226.1-2019

机械电气安全 机械电气设备 第1部分:通用技术条件

1 项检测项目

检测项目:保护联结电路

检测对象:机械电气安全

保护联结电路

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