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数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T 4589.1-2006”筛选，展示 5 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范；半导体器件分立器件分规范
检测项目：共发射极小信号正向电流传输比，共发射极短路输入阻抗、共发射极开路反向电压传输比、共发射极开路输出导纳、共基极开路输出导纳、击穿电压
检测对象：双极性晶体管