数据更新时间
2026-05-12
按“热阻”筛选，展示 8 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 7 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
JESD51-14 (2010)
基于瞬态双界面法的单一路径散热半导体器件结壳热阻测试方法
检测项目：热阻
检测对象：半导体器件
JESD24-3：2002
垂直功率 MOSFET 的热阻测量（源漏极电压法） 全部
检测项目：稳态热阻
检测对象：电子元器件通用电子产品
GJB128A-1997
半导体分立器件试验方法 方法
检测项目：热性能(功率场效应晶体管热阻）、热性能(双极晶体管热阻）
检测对象：电子元器件通用电子产品
半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管
检测项目：热性能(二极管热阻）
检测对象：电子元器件通用电子产品
GJB128B-2021
半导体分立器件试验方法 方法
检测项目：热性能(功率场效应晶体管热阻）
检测对象：电子元器件通用电子产品
半导体器件 分立器件 第7部分：双极型晶体管
检测项目：热性能(双极晶体管热阻）
检测对象：电子元器件通用电子产品
AEC-Q101-Rev-E：2021
基于失效机理的汽车应用分立半导体器件应力试验认证 表格2：C
检测项目：稳态热阻
检测对象：汽车电子分立器件