当前查看：中国电子技术标准化研究院赛西实验室
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数据更新时间
2026-05-12
按“碳化”筛选，展示 2 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
SJ/T 11501-2015
碳化硅单晶晶型的测试方法
检测项目：碳化硅单晶晶型
检测对象：半导体材料
GB/T 31351-2014
碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法
检测项目：碳化硅单晶抛光片微管密度