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2026-05-12
按“识别卡”筛选，展示 242 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 50 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
ISO/IEC 7810: 2019
识别卡 物理特性
检测项目：机械强度、触点表面电阻、耐化学性、静电、卡翘曲、卡的尺寸、剥离强度、在温度和湿度条件下卡尺寸的稳定性和翘曲 等 15 项，点击展开全部
检测对象：带触点的集成电路卡及其接口设备
检测对象：识别卡
识别卡 物理特性
检测项目：机械强度、触点表面电阻、动态弯曲应力（弯曲特性）、动态扭曲应力（扭曲特性）、工作温度、耐化学性、静电、卡翘曲 等 14 项，点击展开全部
检测对象：带触点的集成电路卡及其接口设备
检测对象：识别卡
识别卡 测试方法 第1部分：一般特性测试
检测项目：静磁场、卡翘曲、卡的尺寸、剥离强度、耐化学性、在温度和湿度条件下卡尺寸的稳定性和翘曲、粘连或并块、弯曲韧性 等 13 项，点击展开全部
检测对象：识别卡
识别卡 测试方法 第3部分：带触点的集成电路卡及其相关接口设备
检测项目：静电、触点的尺寸、数量和位置、触点表面电阻、触点的表面轮廓、机械强度、供电触点(VCC)、输入输出触点(I/O)、时钟触点(CLK) 等 11 项，点击展开全部
检测对象：识别卡
检测对象：带触点的集成电路卡及其接口设备
ISO/IEC 14443-1: 2000
识别卡 无触点集成电路卡 接近式卡 第1部分：物理特性
检测项目：交变电场、交变磁场、动态弯曲应力（弯曲特性）、动态扭曲应力（扭曲特性）、工作温度、紫外线、静电、静磁场 等 9 项，点击展开全部
检测对象：无触点的集成电路卡——接近式卡及机具
检测对象：识别卡
识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第1部分：物理特性
检测项目：交变电场、卡的尺寸、动态弯曲应力（弯曲特性）、动态扭曲应力（扭曲特性）、紫外线、静磁场、工作温度、静电 等 9 项，点击展开全部
检测对象：无触点的集成电路卡——邻近式卡及机具
检测对象：识别卡
ISO/IEC 15693-1: 2000
识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第1部分：物理特性
检测项目：交变电场、交变磁场、动态弯曲应力（弯曲特性）、动态扭曲应力（扭曲特性）、工作温度、紫外线、静电、静磁场 等 9 项，点击展开全部
检测对象：无触点的集成电路卡——邻近式卡及机具
检测对象：识别卡
识别卡 物理特性
检测项目：紫外线、动态弯曲应力（弯曲特性）、动态扭曲应力（扭曲特性）、静磁场、工作温度、静电、触点表面电阻、触点的表面轮廓 等 9 项，点击展开全部
检测对象：识别卡
检测对象：带触点的集成电路卡及其接口设备
ISO/IEC 10373-3: 2010
识别卡 测试方法 第3部分：带触点的集成电路卡和相关接口设备
检测项目：供电触点(VCC)、输入输出触点(I/O)、时钟触点(CLK)、复位触点(RST)、复位应答、协议、传输协议
检测对象：带触点的集成电路卡及其接口设备
检测对象：电信智能卡
ISO/IEC 10373-3: 2018
识别卡 测试方法 第3部分：带触点的集成电路卡和相关接口设备
检测项目：供电触点(VCC)、协议、复位应答、复位触点(RST)、时钟触点(CLK)、输入输出触点(I/O)
检测对象：带触点的集成电路卡及其接口设备
识别卡 集成电路卡 第3部分：带触点的卡 电接口和传输协议
检测项目：供电触点(VCC)、协议、复位应答、复位触点(RST)、时钟触点(CLK)、输入输出触点(I/O)
检测对象：带触点的集成电路卡及其接口设备
识别卡 带触点的集成电路卡 第3部分：电信号和传输协议
检测项目：供电触点(VCC)、输入输出触点(I/O)、时钟触点(CLK)、复位触点(RST)、复位应答、协议
检测对象：带触点的集成电路卡及其接口设备
ISO/IEC 7816-3: 2006
识别卡 集成电路卡 第3部分：带触点的卡-电信号和传输协议
检测项目：供电触点(VCC)、输入输出触点(I/O)、时钟触点(CLK)、复位触点(RST)、复位应答、协议
检测对象：带触点的集成电路卡及其接口设备
识别卡 测试方法 第7部：邻近式卡
检测项目：静电、功能测试、工作场强
检测对象：识别卡
检测对象：无触点的集成电路卡——邻近式卡及机具
ISO/IEC 7816-1: 2011
识别卡 带触点的集成电路卡 第1部分：物理特性
检测项目：触点表面电阻、触点的表面轮廓、机械强度
检测对象：带触点的集成电路卡及其接口设备
SGP.22 V2.2.1
远程用户身份识别卡技术规范 2,
检测项目：接口符合性测试、系统表现测试
检测对象：嵌入式通用集成电路卡(eUICC)
SGP.23 V1.4
远程用户身份识别卡测试规范
检测项目：接口符合性测试、系统表现测试
检测对象：嵌入式通用集成电路卡(eUICC)
ISO/IEC 10373-1: 2006
识别卡 测试方法 第1部分：通用特性
检测项目：紫外线、静磁场
检测对象：识别卡
GB/T 17554.2-2015
识别卡 测试方法 第2部分：带磁条的卡
检测项目：卡翘曲、表面变形和凸起区域
检测对象：识别卡
ISO/IEC 10373-2: 2006
识别卡 测试方法 第2部分：带磁条的卡
检测项目：卡翘曲、表面变形和凸起区域
检测对象：识别卡
GB/T 15120.1-2013
识别卡 记录技术 第1部分：凸印
检测项目：卡翘曲、字符凸印的起伏高度
检测对象：识别卡
ISO/IEC 7811-1: 2002
识别卡 记录技术 第1部分：凸印
检测项目：卡翘曲、字符凸印的起伏高度
检测对象：识别卡
ISO/IEC 10373-7:2008
识别卡 测试方法 第7部分：邻近式卡
检测项目：静电、功能测试
检测对象：识别卡
检测对象：无触点的集成电路卡——邻近式卡及机具
GB/T 16649.4-2010
识别卡 集成电路卡 第4部分：用于交换的结构、安全和命令
检测项目：命令功能、命令参数
检测对象：智能卡芯片操作系统
ISO/IEC 7816-4:2013
识别卡 集成电路卡 第4部分：用于交换的结构、安全和命令
检测项目：命令功能、命令参数
检测对象：智能卡芯片操作系统
识别卡 带触点的集成电路卡 第2部分：触点的尺寸和位置 4,
检测项目：触点的尺寸、数量和位置
检测对象：带触点的集成电路卡及其接口设备
ISO/IEC 7810: 2019/ Amd.1: 2024
识别卡 物理特性 补篇1 带触点的集成电路卡的其它要求
检测项目：触点的表面轮廓
检测对象：带触点的集成电路卡及其接口设备
ISO/IEC 10373-2 2015
识别卡 测试方法 第2部分：带磁条的卡
检测项目：表面变形和凸起区域
检测对象：识别卡
ISO/IEC 10373-6:2011
识别卡 测试方法 第6部分：接近式卡
检测项目：静电
检测对象：识别卡
GB/T 14916-2019
识别卡 物理特性
检测项目：在温度和湿度条件下卡尺寸的稳定性和翘曲
检测对象：识别卡
识别卡 带触点的集成电路卡 第2部分：触点的尺寸和位置 3，
检测项目：触点的尺寸、数量和位置
检测对象：带触点的集成电路卡及其接口设备
ISO/IEC 7816-2: 2007
识别卡 集成电路卡 第2部分：带触点的卡-触点的尺寸和位置 3，
检测项目：触点的尺寸、数量和位置
检测对象：带触点的集成电路卡及其接口设备
ISO/IEC 14443-1: 2016
识别卡 无触点集成电路卡 接近式卡 第1部分：物理特性
检测项目：交变磁场
检测对象：无触点的集成电路卡——接近式卡及机具
ISO/IEC 14443-2: 2016
识别卡 无触点集成电路卡 接近式卡 第2部分：射频功率和信号接口 5、6、7、8、
检测项目：射频功率和信号接口
检测对象：无触点的集成电路卡——接近式卡及机具
ISO/IEC 14443-3: 2016
识别卡 无触点集成电路卡 接近式卡 第3部分：初始化和防冲突 5、6、
检测项目：初始化和防冲突
检测对象：无触点的集成电路卡——接近式卡及机具
ISO/IEC 15693-1: 2010
识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第1部分：物理特性
检测项目：交变磁场
检测对象：无触点的集成电路卡——邻近式卡及机具
识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第2部分：空中接口和初始化 5、6、7、
检测项目：功能测试
检测对象：无触点的集成电路卡——邻近式卡及机具
ISO/IEC 15693-2: 2006
识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第2部分：空中接口和初始化 5、6、7、
检测项目：功能测试
检测对象：无触点的集成电路卡——邻近式卡及机具
识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第3部分：防冲突和传输协议 5、6、7、8、9、
检测项目：功能测试
检测对象：无触点的集成电路卡——邻近式卡及机具
ISO/IEC 15693-3: 2009
识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第3部分：防冲突和传输协议 5、6、7、8、9、
检测项目：功能测试
检测对象：无触点的集成电路卡——邻近式卡及机具
卡及身份识别安全设备 测试方法 第1部分：一般特性
检测项目：剥离强度、动态弯曲应力（弯曲特性）、动态扭曲应力（扭曲特性）、卡的尺寸、卡翘曲、在温度和湿度条件下卡尺寸的稳定性和翘曲、字符凸印的起伏高度、弯曲韧性 等 14 项，点击展开全部
检测对象：识别卡
ISO/IEC 10373-1: 2020
卡及身份识别安全设备 测试方法 第1部分：一般特性
检测项目：表面变形和凸起区域、静电、卡翘曲、卡的尺寸、剥离强度、耐化学性、在温度和湿度条件下卡尺寸的稳定性和翘曲、粘连或并块 等 13 项，点击展开全部
检测对象：识别卡
ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2018
用于静电放电灵敏度测试 - 器件放电模型（CDM）- 设备级别 1.0~
检测项目：静电
检测对象：识别卡
AEC - Q100-011 Rev-D
电场感应器件放电模型（CDM）静电放电测试 1~
检测项目：静电
检测对象：识别卡
ISO/IEC 14443-1:2018
卡及身份识别安全设备 无触点接近式对象 第1部分：物理特性
检测项目：卡的尺寸
检测对象：识别卡
ISO/IEC 15693-1：2018
卡及身份识别安全设备 无触点邻近式对象 第1部分：物理特性
检测项目：卡的尺寸
检测对象：识别卡
ISO/IEC 10373-7:2019
卡及身份识别安全设备 测试方法 第7部分：无触点邻近式对象
检测项目：静电
检测对象：识别卡
JESD22-C101F
电场感应器件放电模型-微电子元件静电排放阈值的试验方法 1~13、附录A
检测项目：静电
检测对象：识别卡
AEC - Q100-011 Rev-C1
电场感应器件放电模型（CDM）静电放电测试 1~
检测项目：静电
检测对象：识别卡
ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2014
用于静电放电灵敏度测试 - 器件放电模型CDM）- 设备级别 1~8、附录A~I
检测项目：静电
检测对象：识别卡