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数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T14849.4-2014”筛选，展示 1 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
工业硅化学分析方法 第4部分:电感耦合等离子体原子发射光谱法测定元素含量
检测项目：工业硅中铁、铝、钙含量
检测对象：半导体材料