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数据更新时间
2026-05-12
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GJB 4027B-2021
电子元器件破坏性物理分析方法 工作项目0101/2.7、0102/2.7、0201~0204/2.7、0311~0501/2.7,0703~0802/2.7、1501/2.7、1503/2.7,0103/2.6、0105/2.6、0205/2.6、0206/2.6、0209/2.6、0301/2.6、0602/2.6、0603/2.6、1401/2.6、1502/2.6、0104/2.5、0107/2.5、0108/2.5、0208/2.5、0210/2.5、0302/2.5、0803/2.5,0106/2.9、0601/2.9,0207/2.8、0701/2.8、1001/2.8,0702/2.12、0902/2.12、1003/2.12、1101/2.12、1102/2.12、1201~1301/2.12,0901/2.10、1002/2.10、1004/2.10、1103/2.10、1104/2.10,1402/1.5,1403/
检测项目:结构基线
检测对象:破坏性物理分析(DPA)