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湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

当前查看:湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

湖北省

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数据更新时间

2026-05-12

能力范围

按“测试”筛选,展示 160 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。

按标准归类为 28 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

SJ/T 2215-2015

半导体光电耦合器测试方法

22 项检测项目

检测项目:正向电压(二极管)、二极管正向电流、反向电流(二极管)、反向击穿电压(二极管)、集电极-发射极击穿电压、集电极-发射极饱和电压、输出截止电流、电流传输比 等 22 项,点击展开全部

检测对象:光电耦合器

正向电压(二极管)二极管正向电流反向电流(二极管)反向击穿电压(二极管)集电极-发射极击穿电压集电极-发射极饱和电压输出截止电流电流传输比脉冲上升时间脉冲下降时间下降传输延迟时间上升传输延迟时间隔离电压输出高电平电压输出低电平电压低电平电源电流高电平电源电流传递系数非线性度零位电压通态直流电压维持电流

SJ 20646-1997

混合集成电路DC/DC变换器测试方法

17 项检测项目

检测项目:输出电压、输出电流、输出纹波电压、电压调整率(源效应)、电流调整率(负载效应)、交叉调整率、输入电流、输出电压温度系数 等 17 项,点击展开全部

检测对象:DC/DC变换器

输出电压输出电流输出纹波电压电压调整率(源效应)电流调整率(负载效应)交叉调整率输入电流输出电压温度系数效率绝缘电阻启动过冲启动延迟输入电压跃变时的输出响应输入电压跃变时的恢复时间负载跃变时的输出响应负载阶跃时的恢复时间开关频率

SJ 20961-2006

集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理

16 项检测项目

检测项目:失调、增益误差、线性误差、微分线性误差、功耗、转换时间、数字输出高电平、数字输出低电平 等 16 项,点击展开全部

检测对象:A/D转换器

失调增益误差线性误差微分线性误差功耗转换时间数字输出高电平数字输出低电平数字输入高电平电压数字输入低电平电压数字输入高电平电流数字输入低电平电流电源电压灵敏度

检测对象:D/A转换器

零点误差增益误差线性误差微分线性误差功耗建立时间数字输入高电平电压数字输入低电平电压数字输入高电平电流数字输入低电平电流基准电压电源电压灵敏度
GJB 9147-2017

半导体集成电路运算放大器测试方法

12 项检测项目

检测项目:静态功耗、输入失调电压、输入失调电流、输入偏置电流、开环电压放大倍数、共模电压抑制比、电源电压抑制比、最大输出电流 等 12 项,点击展开全部

检测对象:运算(电压)放大器

静态功耗输入失调电压输入失调电流输入偏置电流开环电压放大倍数共模电压抑制比电源电压抑制比最大输出电流输出峰-峰值电压输出短路电流输出电压最大变化率转换速率增益带宽乘积

SJ/T10805-2018

半导体集成电路电压比较器测试方法

11 项检测项目

检测项目:输入失调电压、输入失调电流、输入偏置电流、静态功耗、开环电压增益、共模抑制比、电源电压抑制比、输出高电平电压 等 11 项,点击展开全部

检测对象:电压比较器

输入失调电压输入失调电流输入偏置电流静态功耗开环电压增益共模抑制比电源电压抑制比输出高电平电压输出低电平电压高电平输出电流低电平输出电流
GB/T 14028-2018

半导体集成电路模拟开关测试方法

11 项检测项目

检测项目:模拟电压工作范围、导通电阻、截止态漏极漏电流、截止态源极漏电流、导通态漏电流、开启时间、关断时间、通道转换时间 等 11 项,点击展开全部

检测对象:模拟开关

模拟电压工作范围导通电阻截止态漏极漏电流截止态源极漏电流导通态漏电流开启时间关断时间通道转换时间最高控制频率导通电阻路差率通道转换无效输出时间
GB/T 14030-1992

半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

9 项检测项目

检测项目:复位电压、复位电流、触发电压、触发电流、阀值电压、阀值电流、控制端电压、静态电源电流 等 9 项,点击展开全部

检测对象:时基电路

复位电压复位电流触发电压触发电流阀值电压阀值电流控制端电压静态电源电流电源电压灵敏度

QJ 1467A-1997

电源变换器测试方法

7 项检测项目

检测项目:效率、并联均分负载性能、电压时间漂移、过载能力、输入端反射电流纹波、温升、绝缘强度试验

检测对象:DC/DC变换器

效率并联均分负载性能电压时间漂移过载能力输入端反射电流纹波温升绝缘强度试验
GB/T4377-2018

半导体集成电路电压调整器测试方法

6 项检测项目

检测项目:电压调整率、电流调整率、纹波抑制比、备用消耗电流和备用消耗电流变化、基准电压、最小输入输出压差

检测对象:电压调整器

电压调整率电流调整率纹波抑制比备用消耗电流和备用消耗电流变化基准电压最小输入输出压差
GB/T 14115-1993

半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理

6 项检测项目

检测项目:线性误差、增益误差、采集时间、跌落电流、采样-保持失调电压、馈通误差

检测对象:采样、保持放大器

线性误差增益误差采集时间跌落电流采样-保持失调电压馈通误差
GB/T 14029-1992

半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理

5 项检测项目

检测项目:满量程总误差、线性误差、标度因子误差、共模抑制比、共模输入电压范围

检测对象:模拟乘法器

满量程总误差线性误差标度因子误差共模抑制比共模输入电压范围

SJT11706-2017

半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法

4 项检测项目

检测项目:功能测试、输出高电平电压和输出低电平电压、输入高电平电流和输入低电平电流、上电电流

检测对象:现场可编程门阵列(FPGA)

功能测试输出高电平电压和输出低电平电压输入高电平电流和输入低电平电流上电电流
GB/T 17574-1998

半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 第IV篇第2节

3 项检测项目

检测项目:输入高电平电流、输入低电平电流、电源电流

检测对象:时基电路

输入高电平电流输入低电平电流电源电流
GB 50073-2013

洁净厂房设计规范 附录A 洁净室或洁净区性能测试和认证 附录A.

2 项检测项目

检测项目:静压差、悬浮粒子

检测对象:工作场所洁净室(区)

静压差悬浮粒子

SJ/T 10694-2022

电子产品制造与应用系统防静电测试方法

2 项检测项目

检测项目:点对点电阻、系统电阻

检测对象:防静电产品

点对点电阻系统电阻

QJ 2289-1992

固体继电器测试方法

1 项检测项目

检测项目:输出端通态电阻Ron

检测对象:固体继电器

输出端通态电阻Ron
GB/T 16292-2010

医药工业洁净室(区)悬浮粒子的测试方法

1 项检测项目

检测项目:悬浮粒子

检测对象:工作场所洁净室(区)

悬浮粒子

GJB 603A-2011

有失效率等级的铝电解电容器通用规范

2 项检测项目

检测项目:高温测试、低温测试

检测对象:固定电容器

高温测试低温测试

GJB 128A-1997

半导体分立器件试验方法 方法

2 项检测项目

检测项目:粒子碰撞噪声检测试验(PIND)、粒子碰撞噪声检测试验

检测对象:晶体管

粒子碰撞噪声检测试验(PIND)

检测对象:电子元器件

粒子碰撞噪声检测试验

GJB 128B-2021

半导体分立器件试验方法 方法

2 项检测项目

检测项目:粒子碰撞噪声检测试验(PIND)、粒子碰撞噪声检测试验

检测对象:晶体管

粒子碰撞噪声检测试验(PIND)

检测对象:电子元器件

粒子碰撞噪声检测试验

GJB 548B-2005

微电子器件试验方法和程序 方法

2 项检测项目

检测项目:高低温测试、粒子碰撞噪声检测试验

检测对象:电子元器件

高低温测试粒子碰撞噪声检测试验

GJB 548C-2021

微电子器件试验方法和程序 方法

2 项检测项目

检测项目:高低温测试、粒子碰撞噪声检测试验

检测对象:电子元器件

高低温测试粒子碰撞噪声检测试验

GJB 1312A-2001

非固体电解质钽电容器总规范

1 项检测项目

检测项目:高温测试

检测对象:固定电容器

高温测试

GJB 2283A-2014

片式固体电解质钽固定电容器通用规范

1 项检测项目

检测项目:高温测试

检测对象:固定电容器

高温测试

AEC-Q100-Rev-H-2014

基于失效机理的集成电路应力试验鉴定 Table2 E

1 项检测项目

检测项目:高低温测试

检测对象:电子元器件

高低温测试

GJB 360B-2009

电子及电气元件试验方法 方法

1 项检测项目

检测项目:粒子碰撞噪声检测试验

检测对象:电子元器件

粒子碰撞噪声检测试验

AEC-Q100-REV-J:2023

基于失效机理的集成电路应力试验鉴定 表2 E

1 项检测项目

检测项目:应力试验前后功能/参数测试

检测对象:汽车电子用集成电路

应力试验前后功能/参数测试

AEC-Q101-REV-E:2021

基于失效机理的汽车用半导体分立器件应力试验鉴定 表2 E

1 项检测项目

检测项目:应力前后电测试

检测对象:汽车电子用半导体分立器件

应力前后电测试

机构信息

机构名称

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

所在地区

湖北省

企业地址

暂无地址信息

联系电话

暂无

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