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湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

当前查看:湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

湖北省

联系电话:暂无

数据更新时间

2026-05-12

能力范围

按“F”筛选,展示 29 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。

按标准归类为 12 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

HJ 84-2016

水质 无机阴离(F<SUP>-</SUP>、Cl<SUP>-</SUP>、NO<SUB>2</SUB><SUP>-</SUP>、Br<SUP>-</SUP>、NO<SUB>3</SUB><SUP>-</SUP>、PO<SUB>4</SUB><SUP>3-</SUP>、SO<SUB>3</SUB><SUP>2-</SUP>、S0<SUB>4</SUB><SUP>2-</SUP>)的测定离子色谱法

1 项检测项目

检测项目:氯化物

检测对象:水和废水

氯化物

JJF(E)168-2025

控温电烙铁校准规范 JJF(鄂)168-

1 项检测项目

检测项目:示值误差

检测对象:电烙铁

示值误差
GB/T 2423.10-2019

环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc: 振动(正弦)

1 项检测项目

检测项目:振动

检测对象:电工电子产品、专用装备

振动

GJB 1515B-2017

固体继电器通用规范

7 项检测项目

检测项目:输入关断电流Ifoff、输入关断电压 Vfoff、输入接通电流Ifon、输入接通电压Vfon、断态时输出漏电流Ioff、输入电流 IF、关断时间Toff

检测对象:固体继电器

输入关断电流Ifoff输入关断电压 Vfoff输入接通电流Ifon输入接通电压Vfon断态时输出漏电流Ioff输入电流 IF关断时间Toff

SJT11706-2017

半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法

4 项检测项目

检测项目:功能测试、输出高电平电压和输出低电平电压、输入高电平电流和输入低电平电流、上电电流

检测对象:现场可编程门阵列(FPGA)

功能测试输出高电平电压和输出低电平电压输入高电平电流和输入低电平电流上电电流

GJB1648A-2011

晶体振荡器通用规范

3 项检测项目

检测项目:基准温度下初始准确度FR、下降时间TF、频率/电压特性FV

检测对象:晶体振荡器

基准温度下初始准确度FR下降时间TF频率/电压特性FV

GJB 128B-2021

半导体分立器件试验方法 方法

2 项检测项目

检测项目:正向电压V<Sub>F</Sub>、正向电流传输比HFE

检测对象:二极管

正向电压V<Sub>F</Sub>

检测对象:晶体管

正向电流传输比HFE

检测对象:绝缘栅双极性晶体管(IGBT)

正向电压V<Sub>F</Sub>
GB/T 4586-1994

半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 第IV章

2 项检测项目

检测项目:栅-源截止电压V<Sub>GSoff</Sub>、正向跨导g<Sub>fs</Sub>

检测对象:场效应晶体管

栅-源截止电压V<Sub>GSoff</Sub>正向跨导g<Sub>fs</Sub>

检测对象:绝缘栅双极性晶体管(IGBT)

正向跨导g<Sub>fs</Sub>
GB/T 4023-2015

半导体器件分立器件和集成电路第2部分: 整流二极管

1 项检测项目

检测项目:正向电压V<Sub>F</Sub>

检测对象:二极管

正向电压V<Sub>F</Sub>

检测对象:绝缘栅双极性晶体管(IGBT)

正向电压V<Sub>F</Sub>

GJB 128A-1997

半导体分立器件试验方法 方法

1 项检测项目

检测项目:正向电压V<Sub>F</Sub>

检测对象:二极管

正向电压V<Sub>F</Sub>

检测对象:绝缘栅双极性晶体管(IGBT)

正向电压V<Sub>F</Sub>
GB/T 4587-1994

半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极性晶体管 第IV章 第1节

1 项检测项目

检测项目:正向电流传输比HFE

检测对象:晶体管

正向电流传输比HFE

GJB2138A-2015

石英晶体元件通用规范

1 项检测项目

检测项目:基准温度容差FL

检测对象:晶体谐振器

基准温度容差FL

机构信息

机构名称

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

所在地区

湖北省

企业地址

暂无地址信息

联系电话

暂无

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