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数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T 14115-1993”筛选,展示 6 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
按标准归类为 1 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
检测项目:线性误差、增益误差、采集时间、跌落电流、采样-保持失调电压、馈通误差
检测对象:采样、保持放大器