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数据更新时间
2026-05-12
按“GJB 4027A-2006”筛选,展示 14 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
按标准归类为 1 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
GJB 4027A-2006
电子元器件破坏性物理分析方法 1103/
检测项目:可焊性、声学扫描显微镜检查、外部目检、X射线检查、粒子碰撞噪声检测(PIND)、密封、内部目检、键合强度 等 13 项,点击展开全部
检测对象:电子元器件
检测对象:破坏性物理分析(DPA)