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2026-05-12
按“剪切”筛选,展示 40 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
按标准归类为 33 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
JIS Z3198-7:2003
无铅焊料测试方法-第7部分:贴装元器件焊点剪切力试验
检测项目:焊点剪切力试验
检测对象:印制板组件
纤维增强塑料 短梁法测定层间剪切强度
检测项目:层间剪切强度
检测对象:纤维增强塑料
ISO14130:1997
纤维增强塑料 短梁法测定层间剪切强度
检测项目:层间剪切强度
检测对象:纤维增强塑料
铝及铝合金铆钉用线材和棒材剪切与铆接试验方法
检测项目:剪切试验
检测对象:金属材料及制品
金属材料 线材和铆钉剪切试验方法
检测项目:高温剪切试验
检测对象:金属材料及制品
ASTM D4287-00 (R2019)
用锥形/平板粘度计测定高剪切粘度的试验方法
检测项目:粘度
检测对象:三防胶(三防漆,防潮油)
ISO 4587:2003
胶粘剂 刚性对刚性的连接组件拉伸搭接剪切强度的测定
检测项目:剪切强度
检测对象:胶粘剂
胶粘剂 拉伸剪切强度的测定(刚性材料对刚性材料)
检测项目:剪切强度
检测对象:胶粘剂
胶粘剂高温拉伸剪切强度试验方法(金属对金属)
检测项目:拉伸剪切强度
检测对象:胶粘剂
HB5164-1981
金属胶接拉伸剪切强度试验方法
检测项目:拉伸剪切强度
检测对象:胶粘剂
AEC-Q100-Rev-J
基于失效机理的汽车应用集成电路应力试验鉴定要求 表格
检测项目:键合剪切、焊球剪切、芯片剪切
检测对象:半导体集成电路
AEC-Q104-Rev-
基于失效机理的汽车应用多芯片模块(MCM)应力试验鉴定要求 表格
检测项目:键合剪切、焊球剪切、芯片剪切
检测对象:微电路模块
GJB 2438B-2017
混合集成电路通用规范 表C.
检测项目:芯片剪切强度、元件剪切强度
检测对象:混合集成电路
AEC-Q101-Rev-E
基于失效机理的汽车应用分立半导体器件应力试验认证 表格2:C
检测项目:键合剪切、芯片剪切
检测对象:分立器件
AEC-Q102-Rev-A
基于失效机理的汽车应用光电半导体器件应力试验认证 表格2:C
检测项目:键合剪切、芯片剪切
检测对象:光电器件
GB/T 6663.1-2007,IEC 60539-1:2002
直热式负温度系数热敏电阻器 第1部分:总规范
检测项目:剪切力(附着力)试验
检测对象:直热式负温度系数热敏电阻器
GB/T 7153-2002, IEC 60738-1:1998
直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器 第1部分:总规范
检测项目:剪切力(附着力)试验
检测对象:直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器
JISZ 3198-5-2003
无铅焊料测试方法-第5部分:无铅焊点的推拉力测试方法
检测项目:焊点拉伸和剪切
检测对象:印制板组件
MIL-STD-1580B-2014
电子、电磁和机电元器件破坏性物理分析 要求
检测项目:剪切强度;粘接强度
检测对象:微电子器件
GJB 4027B-2021
军用电子元器件破坏性物理分析方法 工作项目1101、1102、1000、
检测项目:剪切强度;粘接强度
检测对象:微电子器件
MIL-STD-883K-2016
微电路试验方法标准方法 方法 2019.9、
检测项目:剪切强度;粘接强度
检测对象:微电子器件
GJB 548C-2021
微电子器件试验方法和程序 方法 2019.3、
检测项目:剪切强度;粘接强度
检测对象:微电子器件
GJB 128B-2021
半导体分立器件试验方法 方法
检测项目:剪切强度;粘接强度
检测对象:微电子器件
复合钢板力学及工艺性能试验方法
检测项目:剪切试验
检测对象:不锈钢复合钢板和钢带
SJ/T11187-2023
表面组装用胶粘剂通用规范 5.1.6、
检测项目:剪切强度
检测对象:胶粘剂
ASTM D1002-10 (2019)
通过拉力载荷测定单搭接胶着结合的金属试样表面抗剪强度的试验方法(金属对金属)
检测项目:剪切强度
检测对象:胶粘剂
GJB597B-2012
半导体集成电路总规范 附录B
检测项目:芯片剪切强度
检测对象:半导体集成电路
GJB1420B-2011
半导体集成电路外壳通用规范 表2 鉴定检验
检测项目:芯片剪切
检测对象:外壳(半导体)
GB/T6346.1-2024, IEC 60384-1:2021
电子设备用固定电容器 第一部分: 总规范
检测项目:剪切试验
检测对象:固定电容器
GB/T9546.8-2015
电子设备用固定电阻器 第8部分:分规范:表面安装固定电阻器
检测项目:剪切力
检测对象:片式固定电阻器
球栅阵列(BGA)试验方法
检测项目:焊球剪切
检测对象:球栅阵列(BGA)器件
GJB7400-2011
合格制造厂认证用半导体集成电路通用规范 4.4鉴定检验
检测项目:芯片剪切或拉力
检测对象:半导体集成电路
GJB548B-2005
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目:芯片剪切强度
检测对象:集成电路