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数据更新时间
2026-05-12
按“探针”筛选，展示 2 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GJB3157-1998
半导体分立器件失效分析程序和方法 方法
检测项目：探针电测试
检测对象：半导体分立器件（失效分析）
GJB3233-1998
半导体集成电路失效分析程序和方法
检测对象：半导体集成电路(失效分析)