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数据更新时间
2026-05-12
按“阈值”筛选，展示 7 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T43061-2023
半导体集成电路PWM控制器测试方法
检测项目：同步阈值电压<I>V</I><Sub>THsync</Sub>、零占空比阈值电压<I>V</I><Sub>THzq</Sub>、最大占空比阈值电压<I>V</I><Sub>THmq</Sub>、关断阈值电压<I>V</I><Sub>THsd</Sub>
检测对象：半导体集成电路PWM控制器
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项目：阈值电压<I>V</I><Sub>T</Sub>、阈值电流<I>I</I><Sub>TR</Sub>
检测对象：时基电路
半导体器件分立器件 第8部分：场效应晶体管 第Ⅳ章
检测项目：栅-源阈值电压<I>V</I><Sub>GSth</Sub>
检测对象：MOS场效应管