数据更新时间
2026-05-12
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GJB 4027B-2021
军用电子元器件破坏性物理分析方法 工作项目0101、0102、0201~0204、0311~0501，0703~0802、1501、1503中2.7条，0103、0105、0205、0206、0209、0301、0602、0603、1401、1502、1601中2.6条，0104、0107、0108、0208、0210、0302、0803中2.5条，0106、0601中2.9条，0207、0701、1001中2.8条，0702、0902、1003、1101、1102、1201~1301、2.12，0901、1002、1004、1103、1104中2.10条，1402中1.5条，1403中
检测项目：结构基线
检测对象：通用电子元器件（破坏性物理分析）