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2026-05-12
按“扫频”筛选,展示 20 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
按标准归类为 20 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分:扫频振动
检测项目:扫频振动
检测对象:电子元器件及设备(机械性能)
GJB 128A-1997
半导体分立器件试验方法 方法2056、
检测项目:扫频振动
检测对象:电子元器件及设备(机械性能)
GJB 128B-2021
半导体分立器件试验方法 方法2056、
检测项目:扫频振动
检测对象:电子元器件及设备(机械性能)
GJB 548A-1996
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目:扫频振动
检测对象:电子元器件及设备(机械性能)
GJB 548B-2005
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目:扫频振动
检测对象:电子元器件及设备(机械性能)
GJB 360A-1996
电子及电气元件试验方法 方法
检测项目:扫频振动
检测对象:电子元器件及设备(机械性能)
GJB 360B-2009
电子及电气元件试验方法 方法
检测项目:扫频振动
检测对象:电子元器件及设备(机械性能)
军用设备环境试验方法 振动试验
检测项目:扫频振动
检测对象:电子元器件及设备(机械性能)
GJB150.16A-2009
军用装备实验室环境试验方法 第16部分 振动试验
检测项目:扫频振动
检测对象:电子元器件及设备(机械性能)
环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc:振动(正弦)
检测项目:扫频振动
检测对象:电子元器件及设备(机械性能)
舰船环境条件要求机械环境
检测项目:扫频振动
检测对象:电子元器件及设备(机械性能)
JEDEC JESD22-B103B.01-2016
振动试验
检测项目:扫频振动
检测对象:电子元器件及设备(机械性能)
MIL-STD-750-2B:2022
半导体器件机械试验方法 第2部分:方法2001~2999 方法2056、
检测项目:扫频振动
检测对象:电子元器件及设备(机械性能)
MIL-STD-883-2:2019
微电路机械试验方法 第2部分:方法2000~2999 方法
检测项目:扫频振动
检测对象:电子元器件及设备(机械性能)
MIL-STD-202H:2015
电子及电气元件试验方法 方法
检测项目:扫频振动
检测对象:电子元器件及设备(机械性能)
GJB 1027A-2020
运载器、上面级和航天器试验要求 5.4.5.3 a)
检测项目:扫频振动
检测对象:电子元器件及设备(机械性能)
GJB 548C-2021
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目:扫频振动
检测对象:电子元器件及设备(机械性能)
EIA-198-2-E-1998
陶瓷介质电容器ⅠⅡⅢⅣ系列 第二部分:试验方法 方法
检测项目:扫频振动
检测对象:电子元器件及设备(机械性能)
包装 运输包装件基本试验 第10部分:正弦变频振动试验方法
检测项目:扫频振动
检测对象:电子元器件及设备(机械性能)
GJB 1217A-2009
电连接器试验方法 方法
检测项目:扫频振动
检测对象:电子元器件及设备(机械性能)