数据更新时间
2026-05-12
按“探针”筛选，展示 4 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 4 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体集成电路失效分析程序和方法
检测项目：多头探针测试
检测对象：半导体集成电路（失效分析）
GJB 548A-1996
微电子器件试验方法和程序 方法5003
检测项目：多头探针测试
检测对象：半导体集成电路（失效分析）
GJB 548B-2005
微电子器件试验方法和程序 方法5003
检测项目：多头探针测试
检测对象：半导体集成电路（失效分析）
半导体分立器件失效分析方法和程序 3003方法
检测项目：探针电测试
检测对象：半导体分立器件（失效分析）