数据更新时间
2026-05-12
按“结温”筛选，展示 6 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 6 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
SJ/T 11394-2009
半导体发光二极管测试方法
检测项目：结温
检测对象：发光二极管
JESD 51-14 ：2010
具有单一散热路径的半导体器件结到壳热阻瞬态双界面测试法
检测项目：结温
检测对象：发光二极管
EIA/JESD 51-1：1995
集成电路热测量方法——电学测试法（单芯半导体器件）
检测项目：结温
检测对象：发光二极管
JESD 51-50A：2022
单个或多个芯片、单个或多个PN结LED的热测量方法概述
检测项目：结温
检测对象：发光二极管
JESD 51-51A：2022
基于电学法测量带外露散热面的LED的真实热阻和热阻抗的实施
检测项目：结温
检测对象：发光二极管
JESD 51-52A：2022
结合CIE 127-2007/225:2017总光通量测量和热测量的带外露散热面的LED的测量指南
检测项目：结温
检测对象：发光二极管