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河北省 · 石家庄市
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数据更新时间
2026-05-12
按“GJB 3233-1998”筛选，展示 17 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体集成电路失效分析程序和方法
检测项目：扫描电子显微镜检查、制样镜检、外部检查、电参数测试、非功能测试、X射线照相、外壳清洗、试验分析 等 17 项，点击展开全部
检测对象：通用电子元器件（破坏性物理分析）
检测对象：半导体集成电路（失效分析）