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数据更新时间
2026-05-12
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IEC TS 63342-2022/Edition 1.0
晶体硅光伏组件-光和高温诱导衰减（LETID）试验-检测
检测项目：评估、暗电压分析、光和高温诱导衰减、通过注入电流进行B-O LID预处理、标准测试条件下的性能、EL图像、外观检查
检测对象：光伏组件