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数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T 4937.26-2023”筛选,展示 1 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
按标准归类为 1 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分:静电放电(ESD)敏感度测试 人体模型(HBM)
检测项目:抗静电能力/静电敏感度(HBM模型)
检测对象:电子器件芯片