上海市
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数据更新时间
2026-05-12
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能力摘要
来自该机构公开能力范围。
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目 1301 2.2
半导体集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 IV.2.1
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 1018
集成电路A/D 和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006 5.1.5
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 1008.1
半导体集成电路JW 1524、JW1525、JW1525A、JW1526、JW1527、JW1527A型脉宽调制器详细规范 SJ 20294-1993 3
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997 5.1
产品几何技术规范（GPS)几何公差 检测与验证 GB/T 1958-2017 C10.2
上海航天技术基础研究所已整理公开能力范围，可按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表标准包括 GJB 4027B-2021、GB/T17574-1998、GJB 128B-2021、SJ 20961-2006、GJB 548C-2021、SJ 20294-1993 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 洁净室、半导体分立器件、微电子器件、半导体分立器件(破坏性物理分析)、电子及电气元件、集成电路(破坏性物理分析)、A/D转换器、半导体集成电路TTL电路 等，具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途，需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告；报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
能力明细已保护
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