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数据更新时间
2026-05-12
按“增益”筛选，展示 7 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 6 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
SJ 20961-2006
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
检测项目：增益误差 E<Sub>G</Sub>、增益误差E<Sub>G</Sub>
检测对象：A/D转换器
检测对象：D/A转换器
QJ 2491-93
半导体集成电路运算放大器测试方法
检测项目：开环电压增益A<Sub>VD</Sub>
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目：开环电压增益A<Sub>VD</Sub>
检测对象：半导体集成电路电压比较器
半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
检测项目：增益误差E<Sub>G</Sub>
检测对象：半导体集成电路采样/保持放大器
SJ 20294-1993
半导体集成电路JW 1524、JW1525、JW1525A、JW1526、JW1527、JW1527A型脉宽调制器详细规范
检测项目：环路增益A<Sub>vo</Sub>
检测对象：PWM脉宽调制电路
微波元器件性能测试方法
检测项目：增益
检测对象：微波器件