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数据更新时间
2026-05-12
按“失调”筛选，展示 8 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 5 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
QJ 2491-93
半导体集成电路运算放大器测试方法
检测项目：输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目：输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>
检测对象：半导体集成电路电压比较器
SJ 20294-1993
半导体集成电路JW 1524、JW1525、JW1525A、JW1526、JW1527、JW1527A型脉宽调制器详细规范
检测项目：输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>
检测对象：PWM脉宽调制电路
半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
检测项目：采样-保持失调电压V<Sub>OO（S-H）</Sub>
检测对象：半导体集成电路采样/保持放大器
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法
检测项目：失调误差E<Sub>O</Sub>
检测对象：D/A转换器