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2026-05-12
按“电流”筛选，展示 64 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 18 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体集成电路第2部分：数字集成电路 IV.
检测项目：输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub>、输出低阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>、工作状态时电源电流I<Sub>CC</Sub>、维持状态时电源电流I<Sub>CCS</Sub>、输入电流I<Sub>I</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub> 等 13 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路MOS随机存储器
检测对象：半导体集成电路TTL电路
检测对象：半导体集成电路CMOS电路
GJB 128B-2021
半导体分立器件试验方法 方法
检测项目：集电极-基极截止电流I<Sub>CBO</Sub>、集电极-发射极截止电流I<Sub>CEO</Sub>、集电极-发射极截止电流I<Sub>CER</Sub>、集电极-发射极截止电流I<Sub>CEX</Sub>、集电极-发射极截止电流I<Sub>CES</Sub>、发射极-基极截止电流I<Sub>EBO</Sub>、正向电流传输比h<Sub>FE</Sub>
检测对象：晶体管
SJ 20294-1993
半导体集成电路JW 1524、JW1525、JW1525A、JW1526、JW1527、JW1527A型脉宽调制器详细规范
检测项目：输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、电源电流I<Sub>cc</Sub>、短路电流I<Sub>os</Sub>、集电极漏电流I<Sub>CEO</Sub>
检测对象：PWM脉宽调制电路
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项目：阈值电流I<Sub>T</Sub>、静态电源电流I<Sub>+</Sub>、复位触发电流I<Sub>R</Sub>、触发电流I<Sub>TR</Sub>
检测对象：半导体集成电路时基电路
QJ 2491-93
半导体集成电路运算放大器测试方法
检测项目：输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、最大输出电流I<Sub>OM</Sub>
检测对象：半导体集成电路运算放大器
SJ 20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法
检测项目：输出电流I<Sub>O</Sub>、电流调整率S<Sub>I</Sub>、输入电流I<Sub>I</Sub>
检测对象：DC/DC模块
半导体集成电路模拟开关测试方法
检测项目：截止态漏极漏电流I<Sub>D</Sub><Sub>（</Sub><Sub>off</Sub><Sub>）</Sub>、截止态源极漏电流I<Sub>S</Sub><Sub>（</Sub><Sub>off</Sub><Sub>）</Sub>、导通态漏电流I<Sub>DS</Sub><Sub>（</Sub><Sub>on</Sub><Sub>）</Sub>
检测对象：模拟开关
半导体集成电路电压调整器测试方法
检测项目：电流调整率S<Sub>I</Sub>、消耗电流I<Sub>D</Sub>和耗散电流变化△I<Sub>D</Sub>
检测对象：半导体集成电路电压调整器
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目：输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>
检测对象：半导体集成电路电压比较器
SJ/T 10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
检测项目：输出高电平电流I<Sub>OH</Sub>、输出低电平电流I<Sub>OL</Sub>
检测对象：半导体集成电路CMOS电路
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法
检测项目：电源电流 I<Sub>cc</Sub>、电源电流I<Sub>cc</Sub>
检测对象：A/D转换器
检测对象：D/A转换器
SJ 20961-2006
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
检测项目：数字输入高电平电流 I<Sub>IH</Sub>、数字输入低电平电流 I<Sub>IL</Sub>
检测对象：A/D转换器
检测对象：D/A转换器
半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 Ⅳ
检测项目：栅极截止电流I<Sub>GSS</Sub>、漏极截止电流I<Sub>DSS</Sub>
检测对象：场效应晶体管
SJ 50597/57-2003
半导体集成电路JW584 /JW584A可编程电压基准详细规范 3.4/
检测项目：电源电流I<Sub>cc</Sub>
检测对象：电压基准
QJ 2289-92
固体继电器测试方法
检测项目：输出漏电流I<Sub>D</Sub>
检测对象：固体继电器
半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 第Ⅳ章第1节
检测项目：反向电流I<Sub>R</Sub>
检测对象：二极管
半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件 Ⅳ
检测项目：电流传输比h<Sub>F(ctr)</Sub>
检测对象：光电耦合器
电子设备用固定电容器第1部分：总规范
检测项目：漏电流
检测对象：固定电容器