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数据更新时间
2026-05-12
按“误差”筛选，展示 11 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 4 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
SJ 20961-2006
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
检测项目：零点误差 E<Sub>Z</Sub>、增益误差 E<Sub>G</Sub>、线性误差 E<Sub>L</Sub>、微分线性误差E<Sub>DL</Sub>、增益误差E<Sub>G</Sub>、线性误差E<Sub>L</Sub>
检测对象：A/D转换器
检测对象：D/A转换器
半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
检测项目：线形误差E<Sub>L</Sub>（E<Sub>LX</Sub>,E<Sub>LY</Sub>）、标度因子误差E<Sub>K</Sub>
检测对象：模拟乘法器
半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
检测项目：增益误差E<Sub>G</Sub>
检测对象：半导体集成电路采样/保持放大器
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法
检测项目：失调误差E<Sub>O</Sub>
检测对象：D/A转换器