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2026-05-12
按“阈值”筛选，展示 3 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项目：阈值电压V<Sub>T</Sub>、阈值电流I<Sub>T</Sub>
检测对象：半导体集成电路时基电路
半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 Ⅳ
检测项目：栅-源阈值电压V<Sub>GS(th)</Sub>
检测对象：场效应晶体管