检测对象：半导体集成电路MOS随机存储器
输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub>输出低阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>工作状态时电源电流I<Sub>CC</Sub>维持状态时电源电流I<Sub>CCS</Sub>地址取数时间t<Sub>AA</Sub>片选取数时间t<Sub>AC</Sub>读周期时间t<Sub>RC</Sub>写周期时间t<Sub>WC</Sub>全“1”全“0”棋盘格
检测对象：半导体集成电路TTL电路
输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输入电流I<Sub>I</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>输出短路电流I<Sub>OS</Sub>输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub>输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>电源电流I<Sub>CC</Sub>输出高电平电源电流I<Sub>CCH</Sub>输出低电平电源电流I<Sub>CCL</Sub>输出由低电平到高电平传输延迟时间t<Sub>PLH</Sub>输出由高电平到低电平传输延迟时间t<Sub>PHL</Sub>功能测试
检测对象：半导体集成电路CMOS电路
输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub>输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>电源电流I<Sub>DD</Sub>输出由低电平到高电平传输延迟时间t<Sub>PLH</Sub>输出由高电平到低电平传输延迟时间t<Sub>PHL</Sub>功能测试