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数据更新时间
2026-05-12
按“P”筛选，展示 36 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 8 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
产品几何技术规范（GPS)几何公差 检测与验证 C
检测项目：直线度、平面度、圆度、圆柱度、平行度、垂直度、倾斜度、同轴度 等 12 项，点击展开全部
检测对象：机械零件
产品几何技术规范(GPS)光滑工件尺寸的检验
检测项目：线性尺寸
检测对象：机械零件
SJ 20294-1993
半导体集成电路JW 1524、JW1525、JW1525A、JW1526、JW1527、JW1527A型脉宽调制器详细规范
检测项目：输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、环路增益A<Sub>vo</Sub>、共模抑制比K<Sub>CMR</Sub>、基准电压输出V<Sub>REF</Sub>、输出低电平V<Sub>OL</Sub>、输出高电平V<Sub>OH</Sub> 等 14 项，点击展开全部
检测对象：PWM脉宽调制电路
QJ 2491-93
半导体集成电路运算放大器测试方法
检测项目：静态功耗P<Sub>D</Sub>、最大输出电压V<Sub>OPP</Sub>
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路第2部分：数字集成电路 IV.
检测项目：输出由低电平到高电平传输延迟时间t<Sub>PLH</Sub>、输出由高电平到低电平传输延迟时间t<Sub>PHL</Sub>
检测对象：半导体集成电路TTL电路
检测对象：半导体集成电路CMOS电路
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目：静态功耗P<Sub>D</Sub>
检测对象：半导体集成电路电压比较器
SJ 20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法
检测项目：输出纹波电压V<Sub>RIP</Sub>
检测对象：DC/DC模块
SJ 50597/54-2002
半导体集成电路JW431精密可调电压基准源详细规范 3.4/
检测项目：功率P<Sub>w</Sub>
检测对象：电压基准