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数据更新时间
2026-05-12
按“W”筛选，展示 20 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 4 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
SJ 20294-1993
半导体集成电路JW 1524、JW1525、JW1525A、JW1526、JW1527、JW1527A型脉宽调制器详细规范
检测项目：输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、环路增益A<Sub>vo</Sub>、共模抑制比K<Sub>CMR</Sub>、基准电压输出V<Sub>REF</Sub>、输出低电平V<Sub>OL</Sub>、输出高电平V<Sub>OH</Sub> 等 14 项，点击展开全部
检测对象：PWM脉宽调制电路
SJ 50597/54-2002
半导体集成电路JW431精密可调电压基准源详细规范 3.4/
检测项目：输出电压V<Sub>out</Sub>、功率P<Sub>w</Sub>、线性调整率、负载调整率
检测对象：电压基准
SJ 50597/57-2003
半导体集成电路JW584 /JW584A可编程电压基准详细规范 3.4/
检测项目：电源电流I<Sub>cc</Sub>
检测对象：电压基准
半导体集成电路第2部分：数字集成电路 IV.
检测项目：写周期时间t<Sub>WC</Sub>
检测对象：半导体集成电路MOS随机存储器