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贵州航天计量测试技术研究所

当前查看:贵州航天计量测试技术研究所

贵州省 · 贵阳市

地址:贵州省贵阳市经济技术开发区红河路7号贵阳航天工业园区

联系电话:0851-88696448

数据更新时间

2026-05-12

能力范围

按“电流”筛选,展示 91 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。

按标准归类为 40 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

GB/T 17626.11-2023

电磁兼容 试验和测量技术 第11部分:对每相输入电流小于或等于16 A设备的电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验 5,6,7,

1 项检测项目

检测项目:电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度

检测对象:一般电子电气设备

电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度

IEC 61000-4-11:2020

电磁兼容 试验和测量技术 电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验 每相输入电流不超过16A 5,6,7,

1 项检测项目

检测项目:电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度

检测对象:一般电子电气设备

电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度
GB 17625.1-2022

电磁兼容 限值 第1部分:谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) 6,

1 项检测项目

检测项目:谐波电流

检测对象:一般电子电气设备

谐波电流

IEC 61000-3-2:2020

电磁兼容 限值谐波电流发射限值 (设备每相输入电流≤16A) 6,

1 项检测项目

检测项目:谐波电流

检测对象:一般电子电气设备

谐波电流
GB 17625.2-2007

电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制 6,

1 项检测项目

检测项目:电压变化、电压波动和闪烁

检测对象:一般电子电气设备

电压变化、电压波动和闪烁

IEC 61000-3-3:2021

电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16A和无条件连接的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制 6,

1 项检测项目

检测项目:电压变化、电压波动和闪烁

检测对象:一般电子电气设备

电压变化、电压波动和闪烁

SJ 20294-1993

半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A型脉宽调制器详细规范

8 项检测项目

检测项目:电流调整率(基准部分)S<Sub>I</Sub>、极限短路电流(基准部分)I<Sub>OS</Sub>、同步输入电流(振荡器部分)I<Sub>SYNC</Sub>、输入偏置电流(误差放大器)I<Sub>IB</Sub>、输入失调电流(误差放大器)I<Sub>IO</Sub>、软启动电流(软启动部分)I<Sub>SS</Sub>、关断输入电流(软启动部分)I<Sub>SD</Sub>、电源电流(总体部分)I<Sub>CC</Sub>

检测对象:(JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)脉宽调制器

电流调整率(基准部分)S<Sub>I</Sub>极限短路电流(基准部分)I<Sub>OS</Sub>同步输入电流(振荡器部分)I<Sub>SYNC</Sub>输入偏置电流(误差放大器)I<Sub>IB</Sub>输入失调电流(误差放大器)I<Sub>IO</Sub>软启动电流(软启动部分)I<Sub>SS</Sub>关断输入电流(软启动部分)I<Sub>SD</Sub>电源电流(总体部分)I<Sub>CC</Sub>
GB/T 17574-1998

半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第Ⅳ篇第Ⅱ节

7 项检测项目

检测项目:输出短路电流I<Sub>OS</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZ</Sub>、静态条件下的电源电流I<Sub>CC</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出高电平电流I<Sub>OH</Sub>、输出低电平电流I<Sub>OL</Sub>

检测对象:TTL电路

输出短路电流I<Sub>OS</Sub>输出高阻态电流I<Sub>OZ</Sub>静态条件下的电源电流I<Sub>CC</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>

检测对象:CMOS电路

输出高电平电流I<Sub>OH</Sub>输出低电平电流I<Sub>OL</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>输出高阻态电流I<Sub>OZ</Sub>静态条件下的电源电流I<Sub>CC</Sub>输出短路电流I<Sub>OS</Sub>

检测对象:存储器

输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>

SJ/T 2215-2015

半导体光电耦合器测试方法

5 项检测项目

检测项目:反向电流I<Sub>R</Sub>、电流传输比h<sub>F</sub>、集电极-发射极截止电流I<Sub>CEO</Sub>、高电平电源电流I<Sub>CCH</Sub>、低电平电源电流I<Sub>CCL</Sub>

检测对象:光电耦合器

反向电流I<Sub>R</Sub>电流传输比h<sub>F</sub>集电极-发射极截止电流I<Sub>CEO</Sub>高电平电源电流I<Sub>CCH</Sub>低电平电源电流I<Sub>CCL</Sub>
GB/T 14030-1992

半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

4 项检测项目

检测项目:复位电流I<Sub>R</Sub>、触发电流I<Sub>TR</Sub>、阈值电流I<Sub>T</Sub>、静态电源电流I<Sub>D</Sub>

检测对象:时基电路

复位电流I<Sub>R</Sub>触发电流I<Sub>TR</Sub>阈值电流I<Sub>T</Sub>静态电源电流I<Sub>D</Sub>
GB/T 4587-2023

半导体器件 分立器件 第7部分:双极型晶体管

4 项检测项目

检测项目:集电极-基极截止电流I<Sub>CBO</Sub>、发射极-基极截止电流I<Sub>EBO</Sub>、共发射极正向电流传输比h<Sub>21E</Sub>、集电极-发射极截止电流I<Sub>CEO</Sub>

检测对象:双极型晶体管

集电极-基极截止电流I<Sub>CBO</Sub>发射极-基极截止电流I<Sub>EBO</Sub>共发射极正向电流传输比h<Sub>21E</Sub>集电极-发射极截止电流I<Sub>CEO</Sub>
GB/T 15291-2015

半导体器件 第6部分:晶闸管

4 项检测项目

检测项目:反向峰值电流、维持电流、断态重复峰值电流、门极触发电流和门极触发电压

检测对象:晶闸管

反向峰值电流维持电流断态重复峰值电流门极触发电流和门极触发电压
GB/T 14028-2018

半导体集成电路模拟开关测试方法

3 项检测项目

检测项目:截止态漏极漏电流ID(off)、导通态漏电流IDS(on)、截止态源极漏电流IS(off)

检测对象:模拟开关

截止态漏极漏电流ID(off)导通态漏电流IDS(on)截止态源极漏电流IS(off)
GB/T 35006-2018

半导体集成电路电平转换器测试方法

3 项检测项目

检测项目:输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、静态电流I<Sub>CC</Sub>

检测对象:电平转换器

输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>静态电流I<Sub>CC</Sub>

SJ 20646-1997

混合集成电路DC/DC变换器测试方法

3 项检测项目

检测项目:电流调整率S<Sub>I</Sub>、输出电流、输入电流

检测对象:DC/DC电源变换器

电流调整率S<Sub>I</Sub>输出电流输入电流

GB/T 43041-2023

混合集成电路直流/直流(DC/DC)变换器

3 项检测项目

检测项目:电流调整率S<Sub>I</Sub>、输出电流、输入电流

检测对象:DC/DC电源变换器

电流调整率S<Sub>I</Sub>输出电流输入电流

GB/T 43027-2023

高压电源变换器模块测试方法

3 项检测项目

检测项目:电流调整率S<Sub>I</Sub>、输出电流、输入电流

检测对象:DC/DC电源变换器

电流调整率S<Sub>I</Sub>输出电流输入电流
GB/T 17940-2000

半导体器件 集成电路第3部分:模拟集成电路 第Ⅳ篇第Ⅱ节

3 项检测项目

检测项目:输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、电源电流I<Sub>CC</Sub>

检测对象:运算放大器

输入失调电流I<Sub>IO</Sub>输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>电源电流I<Sub>CC</Sub>

GB/T 42839-2023

半导体集成电路模拟数字(AD)转换器

2 项检测项目

检测项目:模拟输入电流I<Sub>I</Sub>、电源电流I<Sub>cc</Sub>

检测对象:A/D 转换器

模拟输入电流I<Sub>I</Sub>电源电流I<Sub>cc</Sub>

SJ/T 10805-2018

半导体集成电路电压比较器测试方法

2 项检测项目

检测项目:输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>

检测对象:电压比较器

输入失调电流I<Sub>IO</Sub>输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>

SJ/T 11706-2018

半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法

2 项检测项目

检测项目:输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>

检测对象:现场可编程门阵列

输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>
GB/T 4377-2018

半导体集成电路电压调整器测试方法

2 项检测项目

检测项目:电流调整率S<Sub>I</Sub>、短路电流I<Sub>OS</Sub>

检测对象:电压调整器(三端稳压器)

电流调整率S<Sub>I</Sub>短路电流I<Sub>OS</Sub>

GJB1515B-2017

固体继电器通用规范

2 项检测项目

检测项目:输入电流、输出漏电流

检测对象:固体继电器

输入电流输出漏电流
GB/T 4586-1994

半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 第IV章

2 项检测项目

检测项目:栅源极截止(漏泄)电流I<Sub>GSS</Sub>、漏源极截止电流I<Sub>DSS</Sub>

检测对象:场效应晶体管

栅源极截止(漏泄)电流I<Sub>GSS</Sub>漏源极截止电流I<Sub>DSS</Sub>

JB/T 12785-2016

霍尔接近开关传感器

1 项检测项目

检测项目:截止状态电流

检测对象:霍尔集成电路

截止状态电流
GB/T 17619-1998

机动车电子电器组件的电磁辐射抗扰性限值和测量方法

1 项检测项目

检测项目:电磁辐射抗扰性-大电流法/线束激励法

检测对象:汽车电子/电气零部件

电磁辐射抗扰性-大电流法/线束激励法

ISO 11452-4:2020

道路车辆-窄带辐射电磁能量的电子干扰组件试验方法-第4部分:线束激励法 4,6.1,

1 项检测项目

检测项目:电磁辐射抗扰性-大电流法/线束激励法

检测对象:汽车电子/电气零部件

电磁辐射抗扰性-大电流法/线束激励法

ISO 13766-1:2018

Earth-moving and building construction machinery -- Electromagnetic compatibility (EMC) of machines with internal electrical power supply -- Part 1: General EMC requirements under typical electromagnetic environmental conditions

1 项检测项目

检测项目:电磁辐射抗扰性-大电流法/线束激励法

检测对象:汽车电子/电气零部件

电磁辐射抗扰性-大电流法/线束激励法

ISO 13766-2:2018

Earth-moving and building construction machinery -- Electromagnetic compatibility (EMC) of machines with internal electrical power supply -- Part 2: Additional EMC requirements for functional safety 5.3.1,5.3.2,

1 项检测项目

检测项目:电磁辐射抗扰性-大电流法/线束激励法

检测对象:汽车电子/电气零部件

电磁辐射抗扰性-大电流法/线束激励法
GB/T 4343.2-2020

家用电器、电动工具和类似器具的电磁兼容要求第2部分:抗扰度 5.3,5.4,6,

1 项检测项目

检测项目:注入电流

检测对象:家用电器、 电动工具、 照明电器

注入电流

CISPR 14-2:2020

家用电器、电动工具和类似器具的电磁兼容要求第2部分:抗扰度 5.3,5.4,6,

1 项检测项目

检测项目:注入电流

检测对象:家用电器、 电动工具、 照明电器

注入电流
GB/T 14115-1993

半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理

1 项检测项目

检测项目:跌落电流I<Sub>DR</Sub>

检测对象:采样保持放大器

跌落电流I<Sub>DR</Sub>

GB/T 17574-1998 Chapter Ⅳ Quarter Ⅱ

半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇第Ⅱ节

1 项检测项目

检测项目:静态条件下的电源电流I<Sub>CC</Sub>

检测对象:存储器

静态条件下的电源电流I<Sub>CC</Sub>

GB/T 42973-2023

半导体集成电路数字模拟(DA)转换器

1 项检测项目

检测项目:电源电流I<Sub>cc</Sub>

检测对象:D/A转换器

电源电流I<Sub>cc</Sub>

GB/T 14114-1993

半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理 4.7,

1 项检测项目

检测项目:静态电源电流I<Sub>D</Sub>

检测对象:V/F、F/V转换器

静态电源电流I<Sub>D</Sub>

GJB 1513A-2009

混合和固体延时继电器通用规范

1 项检测项目

检测项目:输入电流

检测对象:延时继电器

输入电流
GB/T 6571-1995

半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 第IV章第1节

1 项检测项目

检测项目:反向电流I<Sub>R</Sub>

检测对象:信号、调整和整流二极管

反向电流I<Sub>R</Sub>
GB/T 4023-2015

半导体器件分立器件和集成电路第2部分: 整流二极管

1 项检测项目

检测项目:反向电流I<Sub>R</Sub>

检测对象:信号、调整和整流二极管

反向电流I<Sub>R</Sub>

GJB 1648A-2011

晶体振荡器通用规范

1 项检测项目

检测项目:输入电流-功率

检测对象:晶体振荡器

输入电流-功率
GB/T6346.1-2024

电子设备用固定电容器第一部分:总规范

1 项检测项目

检测项目:漏电流

检测对象:固定电容器

漏电流

机构信息

机构名称

贵州航天计量测试技术研究所

所在地区

贵州省 · 贵阳市

企业地址

贵州省贵阳市经济技术开发区红河路7号贵阳航天工业园区

联系电话

0851-88696448

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