数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T17574-1998”筛选，展示 28 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇第Ⅱ节
检测项目：输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZ</Sub>、静态条件下的电源电流I<Sub>CC</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub> 等 12 项，点击展开全部
检测对象：时基电路
检测对象：TTL电路
检测对象：CMOS电路
检测对象：存储器
GB/T 17574-1998 Chapter Ⅳ Quarter Ⅱ
半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇第Ⅱ节
检测项目：静态条件下的电源电流I<Sub>CC</Sub>
检测对象：存储器