数据更新时间
2026-05-12
按“扫频”筛选，展示 4 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 4 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
检测项目：扫频振动试验
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
检测项目：扫频振动试验
检测对象：电子元器件
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法 2056，方法
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法 2056，方法
检测项目：扫频振动试验
检测对象：电子元器件
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法
检测项目：扫频振动试验
检测对象：电子元器件