数据更新时间
2026-05-12
按“热阻”筛选，展示 13 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 6 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
JESD51
半导体器件结到外壳热阻瞬态双界面测试方法 -14-
检测项目：稳态热阻R(th)<Sub>ja</Sub>，R<Sub>jc</Sub>
检测对象：半导体IGBT电路
半导体器件结到外壳热阻瞬态双界面测试方法 JESD51-14-
半导体器件结到外壳热阻瞬态双界面测试方法 JESD51-14-
检测项目：稳态热阻R(th)<Sub>ja</Sub>，R<Sub>jc</Sub>
检测对象：半导体二极管（稳压管,TVS,TSS,硅桥,硅堆,肖特基二极管）
检测对象：半导体晶体管(达林顿,三极管模块，开关管)
检测对象：半导体晶体场效应管(MOSFET,碳化硅MOSFET)
半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管
检测项目：稳态热阻R(th)<Sub>ja</Sub>，R<Sub>jc</Sub>、瞬态热阻Z<Sub>th</Sub>
检测对象：半导体二极管（稳压管,TVS,TSS,硅桥,硅堆,肖特基二极管）
半导体分立器件和集成电路 第8部分：场效应功率晶体管 第Ⅳ章
检测项目：稳态热阻R(th)<Sub>ja</Sub>，R<Sub>jc</Sub>、瞬态热阻R<Sub>th</Sub>
检测对象：半导体晶体场效应管(MOSFET,碳化硅MOSFET)
半导体器件的试验方法 标准试验方法 MIL-STD-750F
半导体器件的试验方法 标准试验方法 MIL-STD-750F
检测项目：稳态热阻R(th)<Sub>ja</Sub>，R<Sub>jc</Sub>
检测对象：半导体二极管（稳压管,TVS,TSS,硅桥,硅堆,肖特基二极管）
检测对象：半导体IGBT电路
检测对象：半导体晶体管(达林顿,三极管模块，开关管)
检测对象：半导体晶体场效应管(MOSFET,碳化硅MOSFET)
半导体器件 分立器件 第7部分 双极型晶体管
检测项目：热阻
检测对象：半导体晶体管(达林顿,三极管模块，开关管)