数据更新时间
2026-05-12
真实能力概览
来自该机构的真实能力记录。
半导体器件 分立器件 第7部分 双极型晶体管 GB/T4587-2023 6.2.6
13 条能力记录
半导体分立器件和集成电路 第8部分:场效应功率晶体管 GB/T4586-1994 第Ⅳ章 第10条
9 条能力记录
半导体器件 分立器件第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012 6.2.1
8 条能力记录
半导体器件 第 第6部分 晶闸管 GB/T15291-2015 7.4.3
8 条能力记录
半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 GB/T 6571-1995 第Ⅳ章 第1节4.2.3,4.2.4
6 条能力记录
半导体器件分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 GB/T4023-2015 7.1.2
6 条能力记录
电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ga和导则:稳态加速度 GB/T 2423.15-2008
1 条能力记录
电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ka:盐雾 GB/T 2423.17-2008
1 条能力记录
99 条能力记录
36 条能力记录
26 条能力记录
23 条能力记录
17 条能力记录
10 条能力记录
6 条能力记录
5 条能力记录
3 条能力记录
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西安卫光科技有限公司检测与应用中心当前整理 225 条真实能力记录,覆盖 9 类检测对象、21 项标准和 97 个检测项目。
代表标准包括 GB/T4587-2023、GB/T4586-1994、GB/T 29332-2012、GB/T15291-2015、GB/T 6571-1995、GB/T4023-2015 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 电子元器件、半导体晶体管(达林顿,三极管模块,开关管)、半导体二极管(稳压管,TVS,TSS,硅桥,硅堆,肖特基二极管)、半导体晶体场效应管(MOSFET,碳化硅MOSFET)、半导体IGBT电路、半导体可控硅、固定电容器、固定电阻器 等,具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途,需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应 CMA/CNAS 资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告;报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
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