数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T6571-1995”筛选，展示 6 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体器件 分立器件 第3部分:信号（包括开关）和调整二极管 第Ⅳ章 第2节
检测项目：反向恢复时间t<Sub>rr</Sub>、反向恢复时间、箝位电压、微分电阻Rz、电耐久性试验
检测对象：半导体IGBT电路
检测对象：半导体二极管（稳压管,TVS,TSS,硅桥,硅堆,肖特基二极管）
检测对象：半导体晶体场效应管(MOSFET,碳化硅MOSFET)