检测对象：数字集成电路
输出高电平电压（V<sub>OH</sub>）输出低电平电压（V<sub>OL</sub>）输入高电平电流(I<sub>IH</sub>)输入低电平电流（I<sub>IL</sub>）输出短路电流(I<sub>OS</sub>)静态条件下的电源电流(I<sub>CC</sub>)输入箝位电压(V<sub>IK</sub>)输出高阻态电流(I<sub>OZ</sub>)功能测试(FUN)
检测对象：半导体集成电路-CMOS电路
输入低电平电压(V<sub>IL</sub>）输入高电平电压(V<sub>IH</sub>）输出低电平电流(I<sub>OL</sub>）输出高电平电流(I<sub>OH</sub>）输出低电平电压（V<sub>OL</sub>）输出高电平电压（V<sub>OH</sub>）电源电流(I<sub>DD</sub>)输入高电平电流(I<sub>IH</sub>)输入低电平电流（I<sub>IL</sub>）输出高阻态时高电平电流(I<sub>OZH</sub>)输出高阻态时低电平电流(I<sub>OZL</sub>)输出由低电平到高电平传输延迟时间(t<sub>PLH</sub>)输出由高电平到低电平传输延迟时间(t<sub>PHL</sub>)功能测试(FUN)
检测对象：半导体集成电路-TTL电路
输入高电平电压(V<sub>IH</sub>）输入低电平电压(V<sub>IL</sub>）输入箝位电压(V<sub>IK</sub>）输出高电平电压（V<sub>OH</sub>）输出低电平电压（V<sub>OL</sub>）输入电流(I<sub>I</sub>)输入高电平电流(I<sub>IH</sub>)输入低电平电流（I<sub>IL</sub>）输出短路电流(I<sub>OS</sub>)输出高阻态时高电平电流(I<sub>OZH</sub>)输出高阻态时低电平电流(I<sub>OZL</sub>)输出高电平时电源电流(I<sub>CCH</sub>)输出低电平时电源电流(I<sub>CCL</sub>)输出无效时电源电流(I<sub>CCZ</sub>)输出由低电平到高电平传输延迟时间(t<sub>PLH</sub>)输出由高电平到低电平传输延迟时间(t<sub>PHL</sub>)输出由高阻态到高电平传输延迟时间(t<sub>PZH</sub>)输出由高阻态到低电平传输延迟时间(t<sub>PZL</sub>)输出由高电平到高阻态传输延迟时间(t<sub>PHZ</sub>)输出由低电平到高阻态传输延迟时间(t<sub>PLZ</sub>)功能测试(FUN)
检测对象：半导体集成电路-存储器
输入高电平电压(V<sub>IH</sub>）输入低电平电压(V<sub>IL</sub>）输出高电平电压（V<sub>OH</sub>）输出低电平电压（V<sub>OL</sub>）输入高电平电流(I<sub>IH</sub>)输入低电平电流（I<sub>IL</sub>）输出高阻态时高电平电流(I<sub>OZH</sub>)输出高阻态时低电平电流(I<sub>OZL</sub>)工作状态电源电流(I<sub>CC</sub>)待机状态电源电流(I<sub>SB</sub>)存储器的特定时间功能测试（全0全1，55AA、Match算法等）
检测对象：微控制单元
（输入）阈值电压和滞后电压输出高电平电压和输出低电平电压（V<Sub>OH</Sub>和V<Sub>OL</Sub>）输入高电平电流和输入低电平电流(I<Sub>IH</Sub>)和I<Sub>IL</Sub>)动态条件下的总电源电流静态工作电源电流数宇集成电路的功能检验方法
检测对象：数字信号处理器
（输入）阈值电压和滞后电压输出高电平电压和输出低电平电压（V<Sub>OH</Sub>和V<Sub>OL</Sub>）输入高电平电流和输入低电平电流(I<Sub>IH</Sub>和I<Sub>IL</Sub>)输出高阻态电流(I<Sub>OZ</Sub>)动态条件下的总电源电流静态条件下的电源电流数宇集成电路的功能检验方法