数据更新时间
2026-05-12
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能力摘要
来自该机构公开能力范围。
半导体器件 分立器件和集成电路 第 7 部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994 第Ⅳ章第一节10.2
半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 条款4.1
半导体器件 分立器件 第 8 部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994 第Ⅳ章15
半导体集成电路 模拟开关测试方法 GB/T 14028-2018 条款5.2
半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关） 和调整二极管 GB/T 6571-1995 第Ⅳ章第1节1
电线电缆电性能试验方法 第4部分 导体直流电阻试验 GB/T 3048.4-2007 条款5
电线电缆电性能试验方法 第5部分 绝缘电阻试验 GB/T 3048.5-2007 条款6
中国科学院国家空间科学中心可靠性与环境试验中心已整理公开能力范围，可按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表标准包括 GB/T 4587-1994、GB/T 4377-1996、GB/T 4586-1994、GB/T 14028-2018、GB/T 6571-1995、GB/T 3048.4-2007 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 半导体分立器件、集成电路、电子及电气元件、电容器、半导体集成电路运算放大器、双极型晶体管、数字集成电路、半导体集成电路模拟开关 等，具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途，需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告；报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
能力明细已保护
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