数据更新时间
2026-05-12
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半导体集成电路 TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996
半导体集成电路 TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996
检测项目：输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、高阻态输出电流I<Sub>OZ</Sub>、输出截止态电流I<Sub>O（OFF）</Sub>
检测对象：数字集成电路