数据更新时间
2026-05-12
按“扫频”筛选，展示 10 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 9 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GJB 128B-2021
半导体分立器件试验方法 方法
检测项目：扫频振动、扫频振动（监测）
检测对象：半导体分立器件
光学和光学仪器 环境试验方法 第3部分：机械作用力
检测项目：扫频振动（正弦）
检测对象：光学和光学仪器
ISO 9022-3：2022
光学和光学仪器 环境试验方法 第3部分：机械作用力
检测项目：扫频振动（正弦）
检测对象：光学和光学仪器
GJB 597B-2012
半导体集成电路通用规范 附录B
检测项目：扫频振动
检测对象：集成电路和电子器件
MIL-STD-883H-2010
微电子器件试验方法 方法
检测项目：扫频振动
检测对象：集成电路和电子器件
GJB548B-2005
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：扫频振动试验
检测对象：微电子器件
GJB 548C-2021
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：扫频振动
检测对象：微电子器件
GB/T 12085.3-2010
光学和光学仪器 环境试验方法 第3部分：机械作用力
检测项目：扫频振动（正弦）
检测对象：光学和光学仪器
ISO 9022-3：1998，MOD
光学和光学仪器 环境试验方法 第3部分：机械作用力
检测项目：扫频振动（正弦）
检测对象：光学和光学仪器