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数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T15651.3-2003”筛选，展示 2 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件 测试方法
检测项目：电流传输比、集电极-发射极饱和电压
检测对象：半导体光电耦合器