湖南银杏可靠性技术研究所有限公司

GJB 548B-2005

微电子器件试验方法和程序 方法

GJB 548C-2021

微电子器件试验方法和程序 方法

GJB 128A-1997

半导体分立器件试验方法 方法

GJB 360A-1996

电子及电气元件试验方法 方法

GJB 360B-2009

电子及电气元件试验方法 方法

GJB 1312A-2001

非固体电解质钽电容器总规范 3.23、

GJB 733B-2011

有失效等级的非固体电解质钽固定电容器通用规范 3.25、

GJB 468A-2011

1类瓷介固定电容器通用规范 3.22、

军用电子元器件筛选技术要求 5.2、5.3、5.4、5.5、6.2、6.3、6.4、6.5、6.6、6.8、8.5、9.2、15、

GJB 63B-2001

有可靠性指标的固体电解质钽固定电容器总规范 3.7、

GJB 63C-2015

固体电解质钽固定电容器通用规范 3.6、